Новости

НОВОСТИ РЕСТАВРАЦИОННОЙ МАСТЕРСКОЙ
07.12.2023

Открытие выставки «Иконописные редкости»

6 декабря 2023 года в Центральном музее древнерусской культуры и искусства имени Андрея Рублева открылась выставка «Иконописные редкости». Впервые в едином пространстве представлены произведения конца XVII – начала XX века из собрания И.А. Сысолятина, дополненные шедеврами из коллекции Музея имени Андрея Рублева.

Экспозицию открыл директор музея Михаил Миндлин: «Эта уникальная выставка представляет яркие художественные высказывания иконописцев XVII - начала ХХ века». Он отметил, что на выставке показаны иконы чрезвычайно редко встречающихся сюжетов или иконы с редкими иконографическими и стилистическими особенностями.

Куратор выставки, ученый секретарь музея, кандидат искусствоведения Мария Яковлева рассказала гостям, что выставка необычна произведениями, которые выходят за рамки стандартного репертуара русской иконописи: «Наша задача была показать иконы, которые расширяют наши представления о русском религиозном искусстве конца XVII - начала ХХ века и демонстрируют иконографические новшества, связанные с изменениями в культуре и религиозном сознании. Работа над выставкой отчасти напоминала детектив, поскольку необходимо было найти источники многих необычных композицией и деталей». Мария Яковлева поздравила гостей с открытием и поблагодарила коллег, принимавших участие в подготовке проекта также от имени второго куратора, главного научного сотрудника научно-исследовательского отдела Натальи Комашко.

Коллекционер Игорь Сысолятин представил собрание икон гостям рассказом о том, что идея выставки икон появилась два года назад, целью было показать нестандартные памятники русского церковного искусства.

Каталог с полным описанием экспонатов можно приобрести в музейном магазине.

Выставка открыта с 7 декабря 2023 года до 25 февраля 2024 года.



Возврат к списку


Мы используем cookie. Во время посещения сайта Музея имени Андрея Рублева вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ.

Подробнее