Конференции и круглые столы

Круглый стол по выставке «Иконы эпохи императора Николая II»
21.11.2018

Круглый стол по выставке «Иконы эпохи императора Николая II»

26 ноября в 12.00 в Музее имени Андрея Рублева состоится круглый стол, посвященный вопросам развития русской иконописи и декоративно-прикладного искусства с 1894 по 1917 год:

  • иконы в жизни императорской семьи,
  • прославление святых,
  • вопросы технологии и стиля столичных и региональных мастерских,
  • старообрядчество и реставрация,
  • отражение исторических событий в иконе.

Круглый стол проходит по итогам прошедшей выставки «Иконы эпохи Николая II». В рамках проведения круглого стола состоится презентация специального издания к выставке. В нем представлены лучшие произведения времени правления последнего русского монарха из музейных и частных коллекций.

В круглом столе примут участие сотрудники Музея имени Андрея Рублева и приглашенные специалисты.

Программа чтений

Вступительное слово

Н.И. Комашко  К изучению творческой биографии иконописца А.Я. Вашурова

С.В. Гнутова Лицевое и орнаментальное шитье начала ХХ века. Творческий союз художника и вышивальщицы

Е.Л. Тихомирова Мемориальные надписи на иконах конца XIX - начала XX века на примере памятников из Собрания русских икон при поддержке Фонда Андрея Первозванного

А.А. Воробьёв-Шерышев Авторский замысел иконы в окладе и патина времени

М.Е. Генералов Самоцветное наследие Николая Второго и его семьи в Минералогическом музее им. А.Е. Ферсмана РАН

Ж.Г. Белик Иконы Н.С. Емельянова в частных собраниях

М.А. Маханько Новые русские чудотворцы эпохи царя Николая II и их почитание в Казанском крае

Е.В. Давыдова Иконы сергиево-посадских резчиков, поднесенные императору Николаю Второму

Я.Э. Зеленина Об иконографии святителя Питирима Тамбовского

Круглый стол состоится в лекционном зале музея по адресу: Андроньевская пл., д. 8. 

Вход свободный.


Возврат к списку

Мы используем cookie. Во время посещения сайта Музея имени Андрея Рублева вы соглашаетесь с тем, что мы обрабатываем ваши персональные данные с использованием метрических программ.

Подробнее